Sekidenko OR4000T 半導(dǎo)體高溫計可用于RTP、HDP-CVD、MOCVD、UV固化和其它各種半導(dǎo)體工藝過程，應(yīng)用于半導(dǎo)體硅片，外延，晶圓鍍膜等各種工藝的高精度測溫;OR4000T型具備多通道能力，支持高達2kHz的讀取速率，符合半導(dǎo)體應(yīng)用中極為嚴格的要求。

其采用模塊化設(shè)計，可快速量身定制。

產(chǎn)品廠地：上海市

更新時間：2025-03-18

廠商性質(zhì)：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

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產(chǎn)品介紹

主要特性

優(yōu)點:

特點:

技術(shù)參數(shù)：

概述:	多通道，高性能，測量速度高達2kHz
通道配置:	1-4通道，帶可選/固定發(fā)射系數(shù)，每個通道可單獨配置
測溫范圍:	50-3500°C
實時發(fā)射系數(shù)范圍:	無
測量波長:	UV to 2300 nm
讀取速率:	高達2kHz
測量精度:	±1.5℃
重復(fù)精度:	±0.1℃℃，正常情況下
分辨率:	0.001℃C
顯示:	帶鍵盤輸入內(nèi)置，4x21LCD屏，
數(shù)據(jù)I/O:	RS-232,RS-422/486, and Ethernet
模擬輸出:	0-10V或4-21mA
控制接口:	外部觸發(fā)輸入，同步輸出，高低報警
電源:	交流:90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz直流:24V DC
環(huán)境參數(shù):	5-40℃，非冷凝
物理尺寸:	8.6 cm (H)x 15.2 cm (W) x 21.8 cm (D)
重量:	2.0kg
安裝:	底部M3X0.75螺孔
采樣響應(yīng)時間:	2kHz采樣速率時<2ms